FEI Apreo 扫描电子显微镜

功能*为丰富的高性能SEMApreo 革命性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测，这种探测提供卓越的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的*大样品仓压力为500 Pa，可以对要求*严苛的绝缘体进行成像。通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。新的Apreo SEM 可对纳米颗粒、金属、复合材料和涂层等多种材料进行检测，并且整合了创新功能，可提供更好的分辨率、对比度和易用性。独有的复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为1.0 nm），而无需进行电子束减速。作用极大的背散射探测- 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行TV 速率成像时也不例外。无比灵活的探测器- 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。